Röntgenfluoreszenz-Verfahren

Zerstörungsfreie/Berührungslose Schichtdickenbestimmung und Materialanalyse metallisch beschichteter Werkstoffe nach DIN EN ISO 3497. Sie lässt sich zur qualitativen und quantitativen Bestimmung der elementaren Zusammensetzung einer Materialprobe und zur Messung von Schichten und Schichtsystemen einsetzen.

FISCHERSCOPE^®-X-RAY-Messgeräte bieten folgende Vorteile:

• das Material bleibt in seiner Qualität vollständig erhalten
• die Röntgenstrahlung hat keinerlei bleibenden Einfluss auf den Werkstoff
• Methode (XRF) benötigt keine aufwändige Probenvorbereitung
• keine Chemikalien erforderlich
• von der Röntgenstrahlung geht keinerlei Gefährdung für den Bediener aus
• ist einsetzbar zur Materialanalyse und Schichtdickenmessung in einer Vielzahl von Anwendungen.
• nahezu keine Einschränkungen bzgl. der Teilegeometrie